典型文献
微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间测试系统
文献摘要：
荧光屏时间特性是评价像增强器性能的重要参数之一.微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间目前尚缺乏测试手段,基于传统像增强器余辉时间的测试方案,研制了纳秒级荧光屏余辉时间测试系统.该系统通过采样速率250 MHz的高速信号发生器完成对激光二极管光脉冲的激励,经由下降时间为0.57 ns的光电倍增管完成对荧光屏光信号的光电转换,μA量级的微弱光电流信号经放大及单端转差分电路,在AD9684中完成AD转换,随后荧光屏数字亮度信息经现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)后存储至DDR(double data rate)单元内,经上位机发出指令实现DDR内存的读取,通过USB3.0高速传输协议至上位机中.在数据处理中采用卡尔曼滤波及快速寻找下降沿算法,实现对采集数据的噪声滤波和余辉时间的准确测量.测试结果表明,该纳秒级荧光屏余辉时间测试系统可对具有超快光学特性的像增强器进行有效测试,P47型荧光粉的余辉测试结果达到118.0944 ns,重复度为2.08％.
文献关键词：
像增强器;快速余辉;自动测试系统;卡尔曼滤波;现场可编程门阵列
中图分类号：
作者姓名：
卢杰;常乐;陈益新;姜云龙;苏天宁;刘倍宏;赵航;钱芸生;刘健
作者机构：
南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏南京 210094;北方夜视技术股份有限公司,云南昆明 650217;南京美乐威电子科技有限公司,江苏南京 210094
文献出处：
引用格式：
[1]卢杰;常乐;陈益新;姜云龙;苏天宁;刘倍宏;赵航;钱芸生;刘健-.微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间测试系统)[J].应用光学,2022(06):1130-1137
A类：
AD9684,P47,快速余辉
B类：
微光像增强器,纳秒级,荧光屏,间测,时间特性,重要参数,尚缺,试手,测试方案,统通,过采样,MHz,信号发生器,激光二极管,光脉冲,下降时间,ns,光电倍增管,光信号,光电转换,微弱,弱光,光电流,电流信号,单端,转差,差分电路,亮度,现场可编程门阵列,field,programmable,gate,array,FPGA,DDR,double,data,rate,上位机,读取,USB3,高速传输,传输协议,卡尔曼滤波,波及,采集数据,噪声滤波,准确测量,超快光学,光学特性,有效测试,荧光粉,自动测试系统
AB值：
0.314507
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