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火花放电原子发射光谱法精密度影响因素探讨
文献摘要：
火花放电原子发射光谱法(SD-AES)是相对分析方法,其精密度非常重要.火花放电原子发射光谱仪稳定性、样品均匀性以及操作条件均影响SD-AES精密度.实验分析讨论了光谱仪运行和分析线对相对强度的变化,探讨了不同氩气压力和光谱样品分析面表面粗糙度(Ra)对SD-AES精密度的影响.结果表明,光谱样品分析面粗糙度越小,SD-AES精密度越高;例行分析选用分析面粗糙度0.2～2.5 μm,氢气工作压力选用额定压力或略低的压力,能获得较高的精密度;磨削加工能获得更小粗糙度的分析面;精心维护是保持光谱仪出厂性能的关键.并指出用表面粗糙度评定样品分析面质量的必要性.
文献关键词：
精密度;正确度;表面粗糙度;火花放电原子发射光谱法;磨削;铣削;车削
中图分类号：
作者姓名：
李传启;杨婧怡;唐道敏
作者机构：
中国长江动力集团有限公司中试室,湖北武汉430200
文献出处：
引用格式：
[1]李传启;杨婧怡;唐道敏-.火花放电原子发射光谱法精密度影响因素探讨)[J].冶金分析,2022(11):84-88
A类：
火花放电原子发射光谱仪
B类：
火花放电原子发射光谱法,精密度,AES,样品均匀性,操作条件,分析讨论,分析线,相对强度,氩气,样品分析,表面粗糙度,Ra,选用分析,氢气,工作压力,额定,定压,略低,磨削加工,出厂,正确度,铣削,车削
AB值：
0.226164
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