典型文献
一种基于PEM和EOM联合调制的波片参量检测方法
文献摘要：
波片作为一种能改变入射光偏振状态产生相位延迟的重要光学元件,它的准确快速测量一直是研究的热点,为了解决波片参量检测灵敏度不足、速度慢的问题,提出了一种基于弹光和电光联合调制同时测量波片相位延迟量和快轴方位角的简单方法.在该方法中一个参考光路用于监测PEM的相位延迟量实现相位的稳定控制,另一个光路在PEM保持稳定后实现待测波片参量的检测,基于FPGA与数字锁相技术提取探测信号的倍频分量和直流分量,并在片上可编程系统中实现数据处理,从而快速高精度完成对波片相位延迟量和快轴方位角的检测.实验结果显示在PEM相位延迟量稳定在2.405 rad时,该系统检测波片的相位延迟量和快轴方位角的平均相对偏差分别为0.27％和0.25％.测量过程简单快捷、测量精度较高.
文献关键词：
相位延迟量;快轴方位角;弹光调制;电光调制;数字锁相技术
中图分类号：
作者姓名：
李春阳;张敏娟;李克武;杨坤;辜航;张宁
作者机构：
中北大学信息与通信工程学院,山西 太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,山西 太原030051
文献出处：
引用格式：
[1]李春阳;张敏娟;李克武;杨坤;辜航;张宁-.一种基于PEM和EOM联合调制的波片参量检测方法)[J].激光与红外,2022(02):240-246
A类：
快轴方位角
B类：
PEM,EOM,联合调制,波片,参量,入射光,偏振,光学元件,准确快速,快速测量,检测灵敏度,速度慢,同时测量,相位延迟量,单方,参考光路,路用,稳定控制,FPGA,数字锁相技术,探测信号,倍频,直流分量,片上可编程系统,rad,系统检测,平均相对偏差,测量精度,弹光调制,电光调制
AB值：
0.297133
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