典型文献
边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计
文献摘要：
从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑.在此基础上论述了 DesignWare BSR电路的几种设计方法,阐述电路如何进行基于边界扫描的仿真,分别分析输出功能和输入功能仿真下测试数据在电路中的流向,并将两种仿真功能下的数据流向合二为一,以实现电路结构的优化设计.同时针对门数量、面积、延迟和静态功耗这些参数指标对BSR电路进行性能分析,并根据优化后的电路构建最优的BSC模型.
文献关键词：
边界扫描链;边界扫描寄存器;性能分析;优化设计;仿真;数据流
中图分类号：
作者姓名：
孙诚;邵健
作者机构：
中电科申泰信息科技有限公司,江苏无锡 214000
文献出处：
引用格式：
[1]孙诚;邵健-.边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计)[J].电子与封装,2022(03):60-68
A类：
边界扫描寄存器,边界扫描链,DesignWare
B类：
分析和优化,Boundary,Scan,Chain,BSC,Register,BSR,电路模型,展开讨论,电路结构,控制信号,测试数据,仿真功能,数据流向,合二为一,时针,静态功耗,参数指标
AB值：
0.246456
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