典型文献
基于陷阱分布的PI/ZnO复合薄膜介电特性
文献摘要：
航天器在空间环境中的运行稳定性与聚酰亚胺(PI)等航天介质材料绝缘性能息息相关,而其介质内部载流子陷阱是影响绝缘性能的重要因素之一,因此,探究陷阱分布对介质电气性能的影响对保障航天器介质安全使用具有重要意义.该文制备不同掺杂量(质量分数0.5％、1％、3％)的纳米PI/ZnO复合薄膜并进行介电性能测试,通过热刺激电流法和表面电位衰减法分别测量薄膜体陷阱和表面陷阱能级分布并计算其载流子迁移率,测量体积电阻率和击穿场强.该文基于多核模型对纳米ZnO的引入使聚合物的介电性能发生改变的现象进行解释;从陷阱能级的角度分析深、浅陷阱对极化离子的影响机制,讨论陷阱整体的分布对介电常数变化的影响.这些分析和研究为调控材料的绝缘性能、提高航天器的安全性提供了新的思路和方法.
文献关键词：
介电性能;聚酰亚胺;纳米ZnO;陷阱能级分布
中图分类号：
作者姓名：
李天娇;张博;乌江
作者机构：
电力设备电气绝缘国家重点实验室(西安交通大学) 西安 710049;西安工程大学电子信息学院 西安 710048
文献出处：
引用格式：
[1]李天娇;张博;乌江-.基于陷阱分布的PI/ZnO复合薄膜介电特性)[J].电工技术学报,2022(06):1554-1563
A类：
热刺激电流
B类：
陷阱分布,ZnO,复合薄膜,介电特性,航天器,空间环境,运行稳定性,聚酰亚胺,介质材料,绝缘性能,电气性能,安全使用,介电性能,电性能测试,电流法,表面电位,减法,陷阱能级分布,载流子迁移率,体积电阻率,击穿场强,多核,对极,介电常数,分析和研究,思路和方法
AB值：
0.260887
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