典型文献
基于焊点 成就经典——新的微细网版印刷技术观察(八)
文献摘要：
在笔者的案头有两份半导体IC发展的列表(如表57、表58所示),可供读者参考.
尽管看起来这两份列表离今天的时间过去尚久,但是从这份表格的内容中,我们依然能够看到科学技术、IC技术发展的足迹以及能够给予我们的启示.例如表57中所说到的2000年的IC的特征尺寸是＞0.18 μm(180nm),而表58中的2012年的IC的特征尺寸即栅长是35 nm(当时的预测值);而今天IC的特征尺寸已经跨入3 nm制程,眼瞅着2nm、1 nm制程在最近就可实现.
文献关键词：
中图分类号：
作者姓名：
熊祥玉
作者机构：
文献出处：
引用格式：
[1]熊祥玉-.基于焊点 成就经典——新的微细网版印刷技术观察(八))[J].丝网印刷,2022(04):32-36
A类：
网版印刷,网版印刷技术
B类：
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AB值：
0.450404
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