典型文献
一款LVDS收发器芯片的应用验证
文献摘要：
本文通过对一款LVDS收发器芯片进行输出摆幅与温度变化关系、接收阈值与温度变化关系等关键参数的特征曲线测试,工作频率极限应力试验、多节点传输带载试验、温度冲击步进应力试验、机械冲击步进应力试验等步进应力特性测试,充分对该款芯片开展了应用验证.
文献关键词：
LVDS收发器;应用验证
中图分类号：
作者姓名：
李博;沈丹丹
作者机构：
中国电子科技集团公司第五十八研究所
文献出处：
引用格式：
[1]李博;沈丹丹-.一款LVDS收发器芯片的应用验证)[J].中国集成电路,2022(11):81-84
A类：
B类：
LVDS,收发器,应用验证,变化关系,工作频率,极限应力,应力试验,多节点,带载试验,温度冲击,机械冲击,应力特性,该款
AB值：
0.36178
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