典型文献
EMCCD倍增增益老化分析与评价技术
文献摘要：
微光成像技术在国防军事、科学研究等多方面有着不可替代的作用,已经成为各国竞相发展的战略高新技术.目前,空间用EMCCD芯片的设计与制造均由美国公司完全掌握,但美国政府对EMCCD技术进行严格的技术封锁和产品出口管制.而我国全天时相机对地观察等系统需要采用EMCCD,因此,急需针对国产化EMCCD开展倍增增益老化分析与评价.主要针对EMCCD的衰减特性,制定了3种不同的老化测试方法.通过对器件衰减曲线数据进行记录和分析,得出了器件在同一工作温度、不同和起始倍增倍数下,以及调节和不调节倍增电压情况下的衰减情况.为EMCCD在生产完成后能够快速地进入增益稳定期提供了一定的数据支撑,同时为其老化测试的方法提供了一定的指导.
文献关键词：
电子倍增电荷耦合器件;微光成像;倍增增益老化;国产化
中图分类号：
作者姓名：
李钦;吴琼瑶;伍明娟;林珑君;段大川;林雪梅
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十四研究所,重庆 400060
文献出处：
引用格式：
[1]李钦;吴琼瑶;伍明娟;林珑君;段大川;林雪梅-.EMCCD倍增增益老化分析与评价技术)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(02):36-39
A类：
EMCCD,倍增增益老化,电子倍增电荷耦合器件
B类：
老化分析,分析与评价,评价技术,微光成像,国防军事,竞相,设计与制造,美国公司,美国政府,技术封锁,产品出口,出口管制,全天,天时,国产化,衰减特性,老化测试,衰减曲线,行记,工作温度,倍数,不调,稳定期
AB值：
0.25817
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