典型文献
一维线纹激光比长测量装置及其关键技术
文献摘要：
介绍了几何量测量领域中一维线纹激光比长测量关键技术和装置的研究成果,涉及了国内外相关计量技术机构在一维线纹方面的测量能力和范围、装置的基本组成及其工作原理,以及激光干涉法测长和光电显微镜法自动对焦实现线纹刻线快速瞄准等方面的内容.详细阐述了我国一维线纹激光比长测量装置的研究现状,重点分析该装置所应用的关键技术的特点,以及目前的测量水平和能力.根据目前我国一维线纹测量的技术发展状况,从线纹量值溯源和装备制造产业发展两个角度讨论了一维线纹激光比长测量装置的应用前景.
文献关键词：
线纹测量;激光比长仪;激光干涉仪;光电显微镜;测量装置
中图分类号：
作者姓名：
王理;杨璐;李文慧;肖克;孙双花
作者机构：
湖南省计量检测研究院,长沙410014;中国计量科学研究院,北京100029
文献出处：
引用格式：
[1]王理;杨璐;李文慧;肖克;孙双花-.一维线纹激光比长测量装置及其关键技术)[J].计量科学与技术,2022(09):3-11
A类：
光电显微镜,线纹测量,激光比长仪
B类：
测量装置,几何量测量,计量技术机构,光干涉法,显微镜法,自动对焦,刻线,瞄准,所应,量值溯源,装备制造产业,激光干涉仪
AB值：
0.216912
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