典型文献
微波暗室静区性能评测及不确定度分析
文献摘要：
微波暗室广泛用于天线、目标散射特性测量、雷达成像等领域,是微波频段最重要的测试场地之一.微波暗室建设投入较高,其静区性能取决于其内壁铺设的吸波材料特性及其布置,静区指标直接影响使用该暗室测试的设备测量结果准确度.因此如何测量得到准确的微波暗室静区指标是微波暗室验收中必不可少的环节,也是微波暗室环境对测量结果贡献评估的基础.针对微波暗室静区的关键指标——静区反射率电平的测量方法进行研究,针对中大型微波暗室,建立最大行程4 m的基于三维扫描架的静区测量系统,覆盖频率范围1～40 GHz.利用其开展微波暗室静区的测量,给出静区反射率电平的测量结果,并进行了测量系统影响量的全面分析和测量结果不确定度评定.结果表明,以1.1 GHz为例,该系统静区反射率电平在-33 dB的情况下,测量不确定度为 1.72dB(k=2).
文献关键词：
微波暗室;静区;反射率电平;测量不确定度
中图分类号：
作者姓名：
刘潇;赵兴;洪力;李昱瑶;班浩
作者机构：
中国计量科学研究院,北京100029
文献出处：
引用格式：
[1]刘潇;赵兴;洪力;李昱瑶;班浩-.微波暗室静区性能评测及不确定度分析)[J].计量科学与技术,2022(04):89-94
A类：
反射率电平
B类：
微波暗室,静区,性能评测,不确定度分析,天线,散射特性,雷达成像,波频,频段,试场,能取,内壁,铺设,吸波材料,材料特性,暗室测试,关键指标,大行程,三维扫描,测量系统,GHz,系统影响,影响量,测量结果不确定度,不确定度评定,测量不确定度,72dB
AB值：
0.237449
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