典型文献
电子束选区熔化制备TiAl合金叶片热冲击失效机理
文献摘要：
电子束选区熔化(selective electron beam melting,SEBM)增材制造技术在制备具有低室温塑性的金属间化合物材料方面具有独特的技术优势,采用该技术制备的TiAl合金部件已经在先进航空发动机获得成功应用.本研究以Ar气雾化的Ti-48Al-2Cr-2Nb预合金粉末为原料,采用SEBM成功制备出TiAl合金低压涡轮导向叶片模拟件,并对叶片的抗热冲击性能及随炉试棒的室温拉伸性能进行评价.结果表明:SEBM制备的TiAl合金经热处理后室温抗拉强度可达515 MPa,断后伸长率为1.13％;TiAl合金叶片模拟件经700℃水淬热冲击120次后结构完整,经900℃水淬热冲击6次后叶身部分出现垂直于径向的裂纹;结合裂纹扩展路径和裂纹断口分析,确定叶片部件在热冲击条件下失效的主要机制是表面较大粗糙度引起的应力集中.
文献关键词：
电子束选区熔化;钛铝合金;热冲击;室温拉伸
中图分类号：
作者姓名：
高润奇;彭徽;郭洪波;周朝辉;邓阳丕
作者机构：
北京航空航天大学 材料科学与工程学院, 北京 100191;北京航空航天大学 前沿科学技术创新研究院, 北京 100191;长沙新材料产业研究院有限公司, 长沙 410000
文献出处：
引用格式：
[1]高润奇;彭徽;郭洪波;周朝辉;邓阳丕-.电子束选区熔化制备TiAl合金叶片热冲击失效机理)[J].航空材料学报,2022(05):91-99
A类：
B类：
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AB值：
0.368647
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