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XRD测试材料表面微区残余应力
文献摘要：
残余应力是影响材料尤其是复合结构件连接强度的主要因素.选用X射线衍射仪测试样品的残余应力具有无损、检测区域小、可测量材料中的三类残余应力等优点.采用TZM合金(钼锆钛合金)与Ti2 AlNb合金扩散焊界面为研究对象,Ni箔作为中间层材料,利用Bruker D8 advance X射线衍射仪(XRD)采用侧倾法测试中间层厚度不同对材料接头处残余应力的影响.利用X射线衍射仪测量微区样品表面残余应力为高校利用常见X射线衍射仪测试微区试样的残余应力提供了实验指导.
文献关键词：
X射线衍射仪;残余应力;扩散焊;接头;微区
中图分类号：
作者姓名：
马晓晖;毛晶;龙丽霞;杨振文;杜海燕;韩雅静
作者机构：
天津大学 材料科学与工程学院, 天津 300350;天津大学 分析与测试中心, 天津 300072
文献出处：
引用格式：
[1]马晓晖;毛晶;龙丽霞;杨振文;杜海燕;韩雅静-.XRD测试材料表面微区残余应力)[J].实验室科学,2022(02):10-13,18
A类：
B类：
测试材料,微区,复合结构,结构件,构件连接,连接强度,测试样品,可测量,TZM,钛合金,Ti2,AlNb,扩散焊,Bruker,D8,advance,侧倾,中间层厚度,同对,接头处,表面残余应力,区试,实验指导
AB值：
0.429783
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