典型文献
RUNX家族在寻常型银屑病皮损中的表达
文献摘要：
目的 探究Runt相关转录因子(RUNX)家族在寻常型银屑病(PV)皮损中的表达和分布,并分析其水平与皮损中增殖、凋亡、免疫信号通路的相关性.方法 通过基因芯片分析14例健康人皮肤(HC)和17例PV患者皮损中RUNX1、2、3的转录水平,免疫组化分析11例HC、11例慢性湿疹(CE)和12例PV患者皮损中RUNX1、2、3的蛋白水平和分布,利用R语言分析基因芯片中RUNX与其他基因的相关性,并进行GO富集分析.结果 转录水平上,相比HC,PV皮损中RUNX1下调(HC:0.61±0.06,PV:0.54±0.02,P<0.01)、RUNX3上调(HC:0.77±0.04,PV:0.84±0.05,P<0.01),而RUNX2的表达无差异(HC:0.78±0.05,PV:0.82±0.04,P=0.18).免疫组化提示皮肤中RUNX1在表皮和真皮浸润炎症细胞中均有表达,而RUNX2、RUNX3则在炎症细胞上更为富集.相比HC,CE和PV表皮中RUNX1蛋白水平下调(HC:0.24±0.06,PV:0.11±0.02,CE:0.11±0.02,HC vs PV:P<0.01,HC vs CE:P<0.01),PV表皮的RUNX2较HC、CE升高(HC:0.02±0.01,PV:0.04±0.02,CE:0.02±0.02,HC vs PV:P=0.018,PV vs CE:P=0.019),RUNX3在三组间无差异(HC:0.005±0.004,PV:0.011±0.016,CE:0.015±0.020,P=0.861).相关性和功能分析提示PV中RUNX1与增殖凋亡分子(BCL2A1、WNT2、WNT7B、WNT8A、WNT9B)相关,与Th17相关细胞因子(IL-17A、IL-17F、IL-17E)相关.与RU N X3呈正相关的基因主要富集在T细胞、淋巴细胞的活化和分化等通路,负相关的基因参与负调节WNT通路.RUNX3与Th1(STAT4、CXCR3、TNF)、Th17(CCR6、IL-22)、Treg(TGFB、IL-10)相关分子正性相关.结论 银屑病皮损中RU N X家族表达显著改变,其中RU N X1、3与皮损中的增殖凋亡、T细胞免疫尤其是Th17通路密切相关,可能参与银屑病发病.
文献关键词：
RUNX家族;寻常型银屑病;Th17;Wnt信号通路
中图分类号：
作者姓名：
洪丹;梁丽住;郭书萌;王亮春;石臻睿
作者机构：
中山大学孙逸仙纪念医院,广东 广州 510120
文献出处：
引用格式：
[1]洪丹;梁丽住;郭书萌;王亮春;石臻睿-.RUNX家族在寻常型银屑病皮损中的表达)[J].皮肤性病诊疗学杂志,2022(02):116-123
A类：
WNT7B,WNT8A,WNT9B,TGFB
B类：
寻常型银屑病,皮损,Runt,PV,免疫信号通路,基因芯片,健康人,人皮,HC,RUNX1,转录水平,免疫组化,慢性湿疹,CE,语言分析,富集分析,RUNX3,RUNX2,真皮,炎症细胞,功能分析,增殖凋亡,凋亡分子,BCL2A1,WNT2,Th17,17A,17F,17E,STAT4,CXCR3,CCR6,Treg,正性,细胞免疫,Wnt
AB值：
0.234081
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