典型文献
电感耦合等离子体发射光谱法测定粗制氢氧化钴中的硅
文献摘要：
以盐酸溶解粗制氢氧化钴样品,确定在5％盐酸介质中,用电感耦合等离子体发射光谱法测定粗制氢氧化钴中的硅.讨论了试样溶解、测定介质的选择、试样空白的控制、分析谱线的选择和共有元素的干扰等.采用实验方法对实际样品进行硅的测定,结果的相对标准偏差(RSD,N=9)不大于3％,该方法与氟硅酸钾容量法进行对比试验,硅的测定值吻合较好,能满足生产过程中粗制氢氧化钴中硅的测定.
文献关键词：
电感耦合等离子体发射光谱法;粗制氢氧化钴;硅
中图分类号：
作者姓名：
黄甫辉;王艳红
作者机构：
沈阳有色金属研究院有限公司,辽宁沈阳110141
文献出处：
引用格式：
[1]黄甫辉;王艳红-.电感耦合等离子体发射光谱法测定粗制氢氧化钴中的硅)[J].有色矿冶,2022(03):52-54,47
A类：
试样空白
B类：
电感耦合等离子体发射光谱法,粗制氢氧化钴,酸溶解,实验方法,相对标准偏差,RSD,氟硅酸钾容量法,测定值
AB值：
0.085601
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