典型文献
500 kV断路器并联电容高压介损试验研究
文献摘要：
针对现场高压断路器断口电容的常规介损试验经常出现试验介损值超出规程标准的情况,经过分析与试验验证,发现断口电容内部绝缘介质的Garton效应是引起低电压下介损异常的主要原因.通过对介损异常的断口电容进行高压介损试验,发现试验品介损值随试验电压增高出现规律性变化,当电压下降至10 kV时,介损值较施加高压前有明显改善,从而减小Garton效应对实际介损值的影响,并为判断断口电容是否存在真实绝缘异常提供有效依据.
文献关键词：
断口电容;绝缘测试;高压介损;Garton效应
中图分类号：
作者姓名：
唐信;熊云;毛学锋;廖子涵;李威
作者机构：
国网湖南省电力有限公司超高压变电公司,湖南长沙410004;变电智能运检国网湖南省电力有限公司实验室,湖南长沙410004
文献出处：
引用格式：
[1]唐信;熊云;毛学锋;廖子涵;李威-.500 kV断路器并联电容高压介损试验研究)[J].湖南电力,2022(06):110-113,118
A类：
高压介损,断口电容,Garton
B类：
kV,高压断路器,经常出现,内部绝缘,绝缘介质,低电压,试验品,验电,断断,存在真实,绝缘异常,绝缘测试
AB值：
0.192991
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