典型文献
电工电子产品高、低温试验能力验证测试关键点分析
文献摘要：
本文从高、低温试验能力验证的标准、试验方法的选择出发,对测试方法、人员因素、温变速率、测试布局、读取方式、设备选择等项目考核的关键点进行剖析,为实验室进行高、低温试验能力验证结果分析提供参考,以期促进实验室技术能力的提升.
文献关键词：
高温试验;低温试验;能力验证;温变速率;测试布局;设备选择
中图分类号：
作者姓名：
苏淑华;朱珈;张宗取
作者机构：
威凯检测技术有限公司,广州 510663
文献出处：
引用格式：
[1]苏淑华;朱珈;张宗取-.电工电子产品高、低温试验能力验证测试关键点分析)[J].环境技术,2022(04):85-88
A类：
测试布局
B类：
电工电子,电子产品,低温试验,能力验证,验证测试,关键点分析,人员因素,温变速率,读取,设备选择,项目考核,技术能力,高温试验
AB值：
0.345753
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