典型文献
纳米精度在位测量系统测头误差校正方法
文献摘要：
针对超精密机床两轴联动接触式在位测量过程中测头误差影响测量精度的问题,提出了一种测头半径误差及形状误差校正方法.进行了在位测量实验,比较分析了测头误差未校正、测头半径误差校正及测头形状误差校正三种情况的测量结果,并分别与Taylor Hobson PGI840离线测量结果进行对比,以验证测头形状误差校正方法的有效性.测头形状误差校正后,面形精度PV值由420 nm变为370 nm,与离线测量PV值380 nm的差值为10 nm.结果表明,该在位测量系统测头误差校正方法有效,能够提高在位测量精度.
文献关键词：
超精密机床;在位测量;误差校正;纳米精度
中图分类号：
作者姓名：
郭曦鹏;徐闻;王定文;李蓉;尹韶辉
作者机构：
湖南大学国家高效磨削工程技术研究中心,长沙,410082
文献出处：
引用格式：
[1]郭曦鹏;徐闻;王定文;李蓉;尹韶辉-.纳米精度在位测量系统测头误差校正方法)[J].中国机械工程,2022(09):1084-1089
A类：
纳米精度,Hobson,PGI840
B类：
在位测量,测量系统,统测,测头,误差校正,校正方法,超精密机床,接触式,误差影响,测量精度,形状误差,测量实验,Taylor,离线,面形精度,PV
AB值：
0.174617
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