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XRD实验中样品台高度对测定晶格常数的影响
文献摘要：
X射线衍射(XRD)实验是分析物质结构的重要手段,在物理学相关专业的教学中逐渐受到重视.本文对样品台高度变化 Δz引起的测量误差进行了系统分析,发现样品台高度偏移 Δz会使衍射峰位产生明显偏差 Δ2θ,进而引起晶面间距和晶格常数的计算偏差.数据拟合结果表明Si样品晶面间距偏差 Δd/d和晶格常数偏差 Δa/a与 Δz近似线性相关.本文结合Bragg-Brentano衍射几何,对上述实验结果进行了理论分析.本文对XRD实验精确测定晶格常数提供了参考依据,也将为相关教学工作开展提供重要参考.
文献关键词：
X射线衍射;样品台高度;晶格常数
中图分类号：
作者姓名：
王弘德;孙莹;袁秀良;安世海
作者机构：
北京航空航天大学物理学院,北京 102206
文献出处：
引用格式：
[1]王弘德;孙莹;袁秀良;安世海-.XRD实验中样品台高度对测定晶格常数的影响)[J].大学物理,2022(09):28-31,62
A类：
样品台高度,Brentano
B类：
晶格常数,物质结构,物理学,相关专业,测量误差,晶面间距,和晶格,数据拟合,Si,线性相关,Bragg,教学工作
AB值：
0.184929
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