典型文献
硬件加速功能验证问题的DAG划分算法
文献摘要：
功能验证是超大规模集成电路(verylargescaleintegration,VLSI)设计的一个基本环节.随着超大规模电路的普及与发展,在单处理器上对整个电路进行功能验证在可行性和效率上都存在较大的缺陷.基于硬件加速器的功能验证是将整个电路划分成若干个规模更小的子电路;然后在多个硬件处理器上并行的执行功能验证.当电路划分结果的并行性较优时可提高功能验证的效率,缩短时间周期.类似电路设计中的其他划分问题,用于硬件加速功能验证的电路划分问题可以被抽象成图划分问题.相较于传统图划分问题,硬件加速功能验证的划分问题还需要保证较小的模拟深度和较高的调度并行性.为了满足硬件加速功能验证的划分需求,提出了一种基于传统多级图划分策略的有效算法.该算法结合调度思想,利用电路的关键路径信息和时序信息,将硬件加速功能验证问题转化为有向无环图的多级划分问题.随机电路网表数据的实验结果表明,所构造的算法可以有效的减少关键路径长度并且不会引起切边数的增长恶化.
文献关键词：
超大规模集成电路(VLSI);硬件功能加速验证;有向无环图;多级图划分;关键路径
中图分类号：
作者姓名：
何天祥;肖正;陈岑;刘楚波;李肯立
作者机构：
湖南大学信息科学与工程学院,湖南长沙410082;国家超级计算长沙中心,湖南长沙410082
文献出处：
引用格式：
[1]何天祥;肖正;陈岑;刘楚波;李肯立-.硬件加速功能验证问题的DAG划分算法)[J].软件学报,2022(09):3236-3248
A类：
verylargescaleintegration,多级图划分,硬件功能加速验证
B类：
功能验证,DAG,划分算法,超大规模集成电路,VLSI,基本环节,处理器,硬件加速器,若干个,子电路,执行功能,划分结果,并行性,缩短时间,时间周期,电路设计,成图,关键路径,时序信息,问题转化,有向无环图,电路网,路径长,切边
AB值：
0.252964
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