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基于STM32微控制器的电容式微位移测量系统的设计
文献摘要：
基于STM32微控制器构建了电容式微位移测量系统,该系统由电容传感器、数据采集电路以及主控系统组成.基于传感器电容梯度理论模型,分析计算了圆筒形电容式传感器下的电容梯度,对系统关键部件电容式位移传感器探头进行变面积型结构设计.通过对电容梯度与位移的变化进行精密测量,对位移与电容梯度之间的理论数值关系进行实验验证.实验数据证明了变面积型电容式传感器探头设计与测量方案的可行性.在当前的电容式传感器条件下,该测量系统量程达到4.6 mm,精度为10μm,具有较大的测量范围和较高的精度.
文献关键词：
电容式传感器;STM32;电容梯度;微位移测量
中图分类号：
作者姓名：
刘玉良;叶扬扬;孙维一;王勇斌;陈建梁;杨伟明
作者机构：
天津科技大学电子信息与自动化学院,天津 300222
文献出处：
引用格式：
[1]刘玉良;叶扬扬;孙维一;王勇斌;陈建梁;杨伟明-.基于STM32微控制器的电容式微位移测量系统的设计)[J].天津科技大学学报,2022(06):38-44
A类：
电容梯度
B类：
STM32,微控制器,式微,微位移测量,位移测量系统,统由,电容传感器,数据采集电路,主控系统,系统组成,圆筒形,电容式传感器,关键部件,电容式位移传感器,传感器探头,变面积,精密测量,探头设计,测量方案,量程,测量范围
AB值：
0.24569
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