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原位冷冻光电关联技术的研究进展
文献摘要：
冷冻电子断层扫描成像(cryo-ET)是细胞原位解析生物大分子结构的核心技术,cryo-ET的样品厚度需要小于300 nm,冷冻样品聚焦离子束减薄(FIB)是样品制备流程中的必要环节.当前,FIB存在难以迅速精确定位目标区域的问题,原位冷冻光电关联技术(cryo-CLEM)是一项新兴的技术,对原位冷冻样品分别进行冷冻光镜成像和电镜成像,结合了荧光成像的定位优势和电镜成像的分辨率优势,通过将光镜和电镜图像进行配准,指导FIB对原位冷冻样品减薄,能够极大地提高cryo-ET的样品制备效率.本文介绍了 cryo-CLEM中的原位冷冻技术和光电关联成像技术的最新进展和应用情况,重点讨论了超分辨cryo-CLEM成像技术以及嵌入式cryo-CLEM技术,分析了各种方法的优缺点和适用范围,并对cryo-CLEM技术当前面临的主要限制和未来的发展方向进行了展望.
文献关键词：
光电关联成像;荧光导航聚焦离子束减薄;光学超分辨
中图分类号：
作者姓名：
卢婧;李尉兴;徐晓君;纪伟
作者机构：
中国科学院生物物理研究所,北京100101
文献出处：
引用格式：
[1]卢婧;李尉兴;徐晓君;纪伟-.原位冷冻光电关联技术的研究进展)[J].中国光学,2022(06):1275-1286
A类：
冷冻光电关联,CLEM,光电关联成像,荧光导航聚焦离子束减薄
B类：
冷冻电,断层扫描,扫描成像,cryo,ET,生物大分子结构,样品厚度,冷冻样品,FIB,样品制备,必要环节,精确定位,目标区域,光镜,荧光成像,电镜图像,配准,极大地提高,制备效率,冷冻技术,最新进展,光学超分辨
AB值：
0.211511
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