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光学系统降敏设计方法综述
文献摘要：
光学系统性能的有效实现不仅依靠成像质量的设计结果,还受制于光学加工公差、装配公差、环境公差等多种公差的可实现性.具备低误差敏感度特征的光学系统,公差精度要求宽松,可以更好地抵抗误差引起的像质退化,在降低制造成本的同时,有效地提高了光学系统的可实现性,因此降低误差敏感度是光学系统设计应考虑的重要环节.本文分析了光学系统误差敏感度研究现状,总结了典型的光学系统降敏方法,并对这些方法在光学系统设计中的应用进行概述.最后,对光学系统低误差敏感度设计方法的未来发展进行了展望.
文献关键词：
误差敏感度;降敏设计方法;光学系统设计
中图分类号：
作者姓名：
孟庆宇;秦子长;任成明;戚允升
作者机构：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033;中国科学院大学, 北京 100049
文献出处：
引用格式：
[1]孟庆宇;秦子长;任成明;戚允升-.光学系统降敏设计方法综述)[J].中国光学,2022(05):863-877
A类：
降敏设计方法
B类：
方法综述,系统性能,成像质量,受制于,光学加工,加工公差,装配公差,误差敏感度,精度要求,宽松,制造成本,降低误差,光学系统设计,系统误差
AB值：
0.213551
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