典型文献
继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述
文献摘要：
继电器应用十分广泛,研究其可靠性具有重要的意义.继电器的贮存可靠性评估和寿命预测是继电器可靠性研究的重要内容.简述了继电器在长期贮存情况下的失效机理,分析了各种环境应力对继电器贮存可靠性的影响和失效机理.介绍了目前应用的几种继电器可靠性评估的方法:遗传神经网络模型、Bayes法等,并对这些可靠性评估方法进行了分析描述;概述了加速退化试验方法和灰色理论模型在继电器寿命预测领域的应用,分析了各方法的优缺点.最后,对于高可靠性的继电器产品如何进行加速退化试验和寿命预测领域的研究进行了展望.
文献关键词：
继电器;失效机理;加速退化试验;寿命预测
中图分类号：
作者姓名：
乔青云;王召斌;陈康宁;刘百鑫;朱佳淼
作者机构：
江苏科技大学 电子信息学院,江苏 镇江 212003
文献出处：
引用格式：
[1]乔青云;王召斌;陈康宁;刘百鑫;朱佳淼-.继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述)[J].电器与能效管理技术,2022(01):1-6
A类：
继电器应用
B类：
贮存可靠性,可靠性分析,加速退化试验,可靠性评估,寿命预测,电器可靠性,可靠性研究,长期贮存,失效机理,环境应力,遗传神经网络,Bayes,灰色理论模型,高可靠性,电器产品
AB值：
0.201762
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
