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基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术探讨
文献摘要：
卫星导航射频芯片是卫星导航终端在生产和制造中的核心构成环节,其芯片零部件的生产质量水平直接决定了导航终端的定位精度水平.基于此重要性,本文以ATE测试概论作为基础条件,结合ATE射频芯片测试技术发展趋势以及导航射频芯片内部结构,详细介绍了卫星导航射频芯片测试技术,并进一步总结出ATE射频芯片测试程序开发策略,以期对该领域的相关研究提供有价值的参考.
文献关键词：
卫星导航射频芯片测试技术;技术手段;测试设备;性能检测
中图分类号：
作者姓名：
王超
作者机构：
华力智芯(成都)集成电路有限公司,四川 成都 610299
文献出处：
引用格式：
[1]王超-.基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术探讨)[J].中国战略新兴产业,2022(09):128-130
A类：
卫星导航射频芯片测试技术
B类：
ATE,技术探讨,卫星导航终端,成环,零部件,生产质量,质量水平,平直,定位精度,概论,基础条件,技术发展趋势,测试程序,程序开发,开发策略,测试设备,性能检测
AB值：
0.201043
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