典型文献
通过电源完整性分析和电迁移修复提高供电网络可靠性
文献摘要：
电迁移是集成电路供电网络的关键失效因素,由于芯片集成度和电流密度的增加,供电网络设计留给电迁移优化的余量越来越小.供电网络的传统设计缺乏电迁移和电压降的综合分析,会造成设计的过度约束.为避免上述问题,提出一种基于通孔灵敏度分析的供电网络优化方法.首先,通过伴随矩阵的方法验证通孔的灵敏度对电迁移和电压降的影响;然后,结合供电网络的结构,针对关键通孔制定梯度优化策略,避免电迁移过度优化;最后,采用配置通孔阵列结构的方法提高通孔的可靠性.所提分析方法基于32核服务器实现,并通过IBM benchmark进行验证.实验结果表明,与全通孔优化的策略比较,所提方法以极小的面积代价实现电迁移优化,并且协同优化后,电路不存在电压降违规.
文献关键词：
电迁移优化;可靠性;通孔阵列;供电网络
中图分类号：
作者姓名：
王晶;蔡懿慈;周强
作者机构：
清华大学计算机科学与技术系 北京 100084
文献出处：
引用格式：
[1]王晶;蔡懿慈;周强-.通过电源完整性分析和电迁移修复提高供电网络可靠性)[J].计算机辅助设计与图形学学报,2022(04):499-506
A类：
电迁移优化,通孔阵列
B类：
电源完整性分析,供电网络,网络可靠性,集成电路,键失效,失效因素,集成度,电流密度,网络设计,留给,余量,传统设计,电压降,灵敏度分析,网络优化,伴随矩阵,方法验证,合供,梯度优化,阵列结构,提分,服务器,IBM,benchmark,极小,协同优化,违规
AB值：
0.286613
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