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工业CT扫描文物的伪影与校正
文献摘要：
工业计算机断层成像(computed tomography,CT)可以无损获得被检器物的结构组成、材质分布和密度变化等内部信息,是文物结构特征和材质分布无损分析的常用方法之一.由于文物的材料种类繁多、厚度不一、器形复杂,其工业CT扫描结果会伴随一定的伪影——伪影会严重降低图像质量,甚至导致无法准确判断文物的内部结构.因此,需要寻找避免或减弱CT伪影的方法.CT成像的伪影源于多种因素:物理因素导致的伪影和CT投影数据采集过程有关;样品因素导致的伪影和样品的摆放、结构和材料有关;CT算法伪影和CT设备所使用的软件及重建算法有关.其中有些伪影可以通过软件校准减少,但在许多情况下,通过样品的合理摆放和选择合适的CT扫描参数是避免CT伪影的最佳手段之一.本文列举CT检测文物中所遇到的一些常见伪影,并解析这类伪影的消除或减弱的方法,以期为今后CT检测文物提供一定的借鉴作用.
文献关键词：
工业CT;文物;伪影;扫描参数
中图分类号：
作者姓名：
丁忠明;张立凯
作者机构：
上海博物馆,上海 200003;上海恩迪检测控制技术有限公司,上海 201204
文献出处：
引用格式：
[1]丁忠明;张立凯-.工业CT扫描文物的伪影与校正)[J].文物保护与考古科学,2022(06):35-44
A类：
软件校准
B类：
伪影,计算机断层成像,computed,tomography,器物,结构组成,内部信息,无损分析,常用方法,材料种类,器形,扫描结果,图像质量,物理因素,采集过程,摆放,重建算法,多情,扫描参数
AB值：
0.288792
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