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应用于时间数字转换器的补偿校准算法及电路
文献摘要：
文章提出一种基于相位内插型时间数字转换器(time-to-digital converter,TDC)的补偿算法及校准电路,通过该电路能有效地解决由于亚稳态和PVT(process,voltage and temperature)因素变化引起的TDC的采样错误,并且不需要额外的计数器、锁频电路或基于统计方法学的复杂结构.基于该方法的TDC电路采用CMOS 0.110μm工艺设计实现,版图面积仅为380×140μm2,在1.2 V电源下功耗为4.2 mW.仿真结果表明:系统分辨率为104 ps,最大微分非线性(differential nonlinearity,DNL)和积分非线性(integral nonlinearity,INL)分别为0.3、2.5 LSB,证明依据该算法的TDC电路具有良好的时间精度和线性度.
文献关键词：
时间数字转换器(TDC);相位内插;补偿校准;亚稳态;算法电路
中图分类号：
作者姓名：
赵捷;赵野;童纪昀;王莎;张孟翟;赵发展
作者机构：
中国科学院 微电子研究所,北京 100029;中国科学院大学,北京 100029;中国科学院 硅器件技术重点实验室,北京 100029
文献出处：
引用格式：
[1]赵捷;赵野;童纪昀;王莎;张孟翟;赵发展-.应用于时间数字转换器的补偿校准算法及电路)[J].合肥工业大学学报（自然科学版）,2022(12):1637-1642
A类：
相位内插
B类：
时间数字转换器,补偿校准,digital,converter,TDC,补偿算法,校准电路,亚稳态,PVT,process,voltage,temperature,计数器,锁频,统计方法学,复杂结构,CMOS,工艺设计,设计实现,版图,图面,功耗,mW,ps,differential,nonlinearity,DNL,integral,INL,LSB,证明依据,时间精度,线性度,算法电路
AB值：
0.488542
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