典型文献
基于SAE-OCSVM的伪芯片检测研究
文献摘要：
针对传统芯片检测方法存在检测效率低、要求高、适用性差等问题,提出了基于电磁旁路信号和机器学习方法的伪芯片检测框架.首先,在持有正品芯片的基础上通过引入神经网络和多种特征提取方法提取特征向量,并将正样本的指令信号作为模板库;然后,对待测芯片近场电磁信号进行加窗分帧,并对每帧信号进行特征提取;最后,将特征向量输入改进核函数的一类支持向量机进行扫描式匹配,从而达到芯片检测的目的.实验结果表明,该方法能够适用于以次充好重标记类型的伪芯片检测.
文献关键词：
集成电路;伪芯片检测;旁路分析;自动编码器;一类支持向量机
中图分类号：
作者姓名：
李雄伟;刘俊延;张阳;陈开颜;刘林云
作者机构：
陆军工程大学石家庄校区,河北石家庄050003
文献出处：
引用格式：
[1]李雄伟;刘俊延;张阳;陈开颜;刘林云-.基于SAE-OCSVM的伪芯片检测研究)[J].湖南大学学报（自然科学版）,2022(02):117-124
A类：
伪芯片检测
B类：
SAE,OCSVM,检测效率,机器学习方法,检测框架,正品,入神,提取特征,特征向量,模板库,近场,电磁信号,加窗,分帧,核函数,一类支持向量机,扫描式,以次充好,集成电路,旁路分析,自动编码器
AB值：
0.341816
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